RinSaTex-HDS跳扩频综合测试仪是针对信息数据传输的实时性、保密性、可靠性、吞吐量、抗干扰等需求，经过系统架构优化和小型化设计，具有射频集成结构，可配置快速跳速、抗通信干扰能力的跳扩频测试设备，可以满足于跳扩频系统在信号体制验证、设备研制、分系统测试、集成装配、外场检验等各阶段测试需求。RinSaTex-HDS跳扩频综合测试仪基于软件无线电平台，采用超大规模FPGA芯片、高速ADC芯片、高速DAC芯片，应用直接数字合成DDS技术、跳扩频信号快速捕获技术、跳扩频信号跟踪技术，实现了可达20000hop/s的跳频速率、400MHz的工作带宽、10kbps的信息传输速率，满足跳扩频通信系统的需求，可以支持多种型号任务的测试。